丹東熒光分析X射線管廠家供應(yīng)
發(fā)布時(shí)間：2024-12-20 01:56:14
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X射線衍射儀技術(shù)，通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
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光電倍增管的靈敏度有兩種，一種是陰極靈敏度，另一種是陽(yáng)極靈敏度。陰極靈敏度是指單位光輻射在光陰極上產(chǎn)生光電流的大小，它是由所用光陰極材料決定的。陽(yáng)極靈敏度是指光電倍增管在一定外加電壓作用下單位光輻射產(chǎn)生的陽(yáng)極輸出電流。陽(yáng)極靈敏度是隨著外加電壓大小而改變的。這兩種靈敏度是選用PMT的重要參數(shù)。
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X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測(cè)量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當(dāng)使用放射性同位素作激發(fā)源時(shí)能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實(shí)驗(yàn)室，還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當(dāng)使用電子同步加速器或電子儲(chǔ)存環(huán)發(fā)出的高強(qiáng)度偏振輻射作激發(fā)源時(shí)，探測(cè)極限比PIXE好幾個(gè)數(shù)量級(jí)。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進(jìn)行微區(qū)分析。
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定向X射線機(jī)其射線管窗口朝向地面，射線管是否位于水平位置不易測(cè)量，即使調(diào)整成水平狀態(tài)在射線管升降過(guò)程中，其是否保持水平位置也未知，直接影響到中心射線束位置，有效透照區(qū)位置，對(duì)于射線管需旋轉(zhuǎn)一定角度的透照，更是無(wú)法確認(rèn)旋轉(zhuǎn)后的準(zhǔn)確角度，不利于得到滿意的射線底片。針對(duì)這一情況，制作了控制射線管水平位置和旋轉(zhuǎn)角度的簡(jiǎn)易工具。
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選擇二次靶和偏振光也是為了進(jìn)行有選擇的激發(fā)，并降低背景。對(duì)于封閉式正比計(jì)數(shù)管為探測(cè)器的低分辨率光譜儀，管壓和管流選擇也是很重要的，如測(cè)定水泥原材料，用Cu靶，3盧um厚的Sn濾光片，測(cè)Si,A1,S時(shí)也用4kv,0.6mA,而測(cè)Ca和Fe時(shí)則用10kv,0.06mA.
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當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。