山東結(jié)構(gòu)分析X射線管聯(lián)系電話地址
發(fā)布時間：2024-12-19 01:55:38
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熒光分析X射線是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用熒光分析X射線管輻射激發(fā)待分析樣品中的原子，使原子發(fā)出標(biāo)識X射線（熒光），通過測量這些標(biāo)識X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同，可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析，電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
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在測量不規(guī)則的樣品時，雖然從X射線熒光分析方法上可以對測量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實(shí)際測量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測量精度和測量數(shù)據(jù)的可靠性。X射線熒光實(shí)際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還須防止樣品的損失和沾污。
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X射線安檢儀是通過安檢X射線管發(fā)射Ｘ射線掃描物品，利用X射線能穿透的特點(diǎn)，對乘客的物品掃描，檢查是否有違禁物品。我們常說的醫(yī)用X光與CT，就是利用電離輻射中的電磁波X射線能穿透人體的特點(diǎn)，可以讓影像科醫(yī)生通過X射線穿透人體后形成的圖像，間接地觀察人體內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
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X射線檢測可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質(zhì)和大小,底片可以長期保留。對于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來。而對于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時,才能夠檢查出來,而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時,就很難查出。這是因?yàn)樵谡丈浞较驇缀鯖]有厚度差的緣故。
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X射線在物質(zhì)中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。熒光分析X射線管當(dāng)使用放射性同位素作激發(fā)源時能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實(shí)驗(yàn)室，還可以用于工廠、野外地質(zhì)和礦山。當(dāng)使用電子同步加速器或電子儲存環(huán)發(fā)出的高強(qiáng)度偏振輻射作激發(fā)源時，探測極限比PIXE好幾個數(shù)量級。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進(jìn)行微區(qū)分析。
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X射線熒光光譜校正曲線法要求標(biāo)準(zhǔn)樣和樣品的物理化學(xué)形態(tài)、分析元素的濃度范圍盡可能一致。在許多情況下，分折線強(qiáng)度并不隨著其濃度的增加而增加，需對基體進(jìn)行校正后，方能繪制工作曲線。早期X射線熒光光譜定量分析主要使用校正曲線方法獲得定量分析結(jié)果，以作圖法制定校正曲線。通常以濃度C,為橫坐標(biāo)，I為縱坐標(biāo)?，F(xiàn)在則通過計(jì)算機(jī)用二乘法進(jìn)行計(jì)算，X射線熒光光譜曲線上各數(shù)據(jù)點(diǎn)與曲線上相對應(yīng)的數(shù)據(jù)偏差的平方和。