萊陽結(jié)構(gòu)分析X射線管市場報價
發(fā)布時間：2024-11-30 02:04:52
萊陽結(jié)構(gòu)分析X射線管市場報價
結(jié)構(gòu)分析X射線管高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
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物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是XRD（X射線衍射）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等)有力的方法，而且X射線衍射是人類用來研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。X射線衍射的應(yīng)用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術(shù)科學中，成為一種重要的實驗方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無損試樣的優(yōu)點。
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當材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用結(jié)構(gòu)分析X射線管XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
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由于同步輻射具有強度高、準直好、偏振性、波長連續(xù)可調(diào)等優(yōu)點，使得同步輻射X射線熒光分析比常規(guī)X射線熒光分析，具有更高的靈敏度和更小的微區(qū)分析能力，可以解決一些常規(guī)X光源不能解決的科研和實際應(yīng)用問題?？梢赃M行各種材料的微區(qū)、微量元素的無損成分分析，譜的信噪比與改造前的白光譜相比提高了近兩個數(shù)量級。
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X射線熒光光譜法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟須有非常好的重復操作可能性；用于制作校準曲線的標準樣品和分析樣品須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光分析儀從根本上來說是一種相對測量儀器，因此在使用過程中，需要定期對儀器進行標定和校準。